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從這個角度上看，頻譜分析儀更適合測量晶體頻率。2儀器測量頻率的精度從下面兩個方面來分析儀器的哪些參數(shù)影響到測量精度-內(nèi)部時鐘精度-測量值分辨率初步定性分析，頻率計作為專業(yè)測試設備，內(nèi)部時鐘精度不差，從定期的儀器校驗結(jié)果看，精度高于1ppm，特別是它的分辨率12bit是非常高的；頻譜分析儀的時鐘精度看上去也可以，而且1Hz的分辨率滿足測試要求，但實際掃描到功率峰值的頻率是否穩(wěn)定還需要驗證；而示波器的時鐘精度看上去與前兩者相差并不大，但需要考慮到：量化誤差（前端信號采集系統(tǒng)的8位ADC引起的信號幅度測量誤差）引起的垂直電平測量不準確性，以及采樣率不足等因素都會引起水平軸的測量誤差， 終導致頻率值測量誤差，而且其分辨率情況需要實測驗證。
文中介紹一種基于DDFS(直接頻率)技術的可編程音頻儀器測試信號源設計。該系統(tǒng)采用單片機作為控制器，以FPGA(現(xiàn)場可編程門陣列)作為信號源的主要，利用DDFS技術產(chǎn)生一個按指數(shù)衰減的頻率可調(diào)正弦衰減信號。測試結(jié)果表明，該系統(tǒng)產(chǎn)生的信號其幅度可以按指數(shù)規(guī)律衰減;其頻率可以在1～4KHz頻率范圍內(nèi)按1Hz步長步進?？梢苑奖愕挠糜跍y試音頻儀器設備的放大和濾波性能。在各種音頻儀器設備的設計和維護中，廣泛利用音頻信號源測試這些設備的工作狀態(tài)和性能指標。
PCB設計基頻電路時，需要大量的信號工程知識。發(fā)射器的射頻電路能將已過的基頻信號轉(zhuǎn)換、升頻至的頻道中，并將此信號注入至傳輸媒體中。相反的，接收器的射頻電路能自傳輸媒體中取得信號，并轉(zhuǎn)換、降頻成基頻。發(fā)射器有兩個主要的PCB設計目標：是它們必須盡可能在消耗 少功率的情況下，發(fā)射特定的功率。第二是它們不能干擾相鄰頻道內(nèi)的收發(fā)機之正常運作。就接收器而言，有三個主要的PCB設計目標：首先，它們必須準確地還原小信號；第二，它們必須能去除期望頻道以外的干擾信號； 一點與發(fā)射器一樣，它們消耗的功率必須很小。
AQ6375B和AQ6376是研究人員和工程師進行各種特殊測量的利器，具備高精度、高分辨率、高動態(tài)范圍和高靈敏度的指標。下面，我們來對比一下衍射光柵型光譜儀與干涉儀型光譜儀在測試光譜時存在的具體差異。1更為出色的靈敏度對于弱信號的，衍射光柵型光譜儀會比干涉型光譜儀能力強很多。2更大的動態(tài)范圍和更小的實際波長分辨率對于類似DFB-LD的器件，由于干涉型光譜儀的動態(tài)范圍和分辨率比較差，不太適合測試此類產(chǎn)品。
我們也應當使A線路與B線路之間的延遲匹配和插入損耗匹配。此外，我們需要確保插入損耗不會太多，這樣的話，接收器能夠正確地恢復數(shù)據(jù)。為了滿足上述要求，A線路和B線路應該在它們的物理布局布線中保持高對稱。發(fā)射器和接收器也應該在它們的A和B線路電路中保持高對稱，這樣的話，它們在A線路和B線路上的電氣負載相等。設計差分對，以限度地減少失真在理想情況下，差分對是完全對稱的，此時具有無限帶寬并且鄰近信號之間完全隔離。
燒錄器的功能很簡單、很專一，那就是把數(shù)據(jù)完完整整、重復地復制到每一顆芯片上，復制成功了就提示Pass，復制失敗了就提示Fail；SmartPRO6000F-Plus是一臺全心專注于高品質(zhì)、率的Flash 燒錄編程器；目前為止，有廣泛的、的燒錄客戶群，軟件、硬件和算法都是客戶批量生產(chǎn)驗證過的，非常成熟。那問題究竟出在哪里呢，讓我們繼續(xù)看吧。先友情提醒一下，我們的燒錄軟件有一個監(jiān)控“電子眼”(操作日記)，時刻記錄著客戶對每顆芯片的燒錄情況；客戶有任何違規(guī)操作或者燒錄異?，F(xiàn)象，我們都可以迅速重返到“案發(fā)現(xiàn)場”，找到問題的根源；我們時間讓客戶把操作日記發(fā)過來，從操作日記上看，客戶反饋的現(xiàn)象確實存在，日志也幫助我們很快找到了這種異常：但是這種現(xiàn)象并不是因為燒錄器造成，而是芯片本身存在的工藝差異原因?qū)е碌?；可能有人就會馬上反駁，明顯地出現(xiàn)如此高的燒錄 率，編程器原廠就沒有任何責任，而是一句話就把問題推到芯片原廠？不要著急，繼續(xù)往下看。
MarvinTestSolutions與Rohde＆Schwarz合作發(fā)5GIC的ATE系統(tǒng)，也將參與這場競爭之中。：TS-96e-5G外觀圖產(chǎn)品介紹硬件部分TS-96e-5GmmWave測試系統(tǒng)可高達5GHz的測試性能。該系統(tǒng)將實驗室級RF性能直接集成到mmWave被測設備（DUT）中，用于mmWave設備的多網(wǎng)站生產(chǎn)測試或設備表征。此外，MTS還數(shù)字和參數(shù)測試以及SPI/I2C接口支持，以便在功能上控制/監(jiān)控被測設備。