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湖南盈能電力科技有限公司，專業(yè)儀器儀表及自動化控制設備等。電力電子元器件、高低壓電器、電力金具、電線電纜技術研發(fā)；防雷裝置檢測；儀器儀表，研發(fā)；消防設備及器材、通訊終端設備；通用儀器儀表、電力電子元器件、高低壓電器、電力金具、建筑材料、水暖器材、壓力管道及配件、工業(yè)自動化設備銷；自營和各類商品及技術的進出口。
的產品、的服務、的信譽，承蒙廣大客戶多年來對我公司的關注、支持和參與，才鑄就了湖南盈能電力科技有限公司在電力、石油、化工、鐵道、冶金、公用事業(yè)等諸多領域取得的輝煌業(yè)績，希望在今后一如既往地得到貴單位的鼎力支持，共同創(chuàng)更加輝煌的明天！
容量測量：如下圖測試電路，核心是用一個具有恒流輸出及電壓限制的功率電源作為充電電源。電容兩端的充電電壓波形可以通過一個數(shù)字示波器進行記錄。通過示波器的光標，可以很方便地讀出電壓從1.5V上升到2.5V所用的時間，基本的計算公式如下：i=C（V/t）公式變換為：C=i（t/V）。充電電流設定為1A，電壓變化范圍V=2.5V-1.5V-1V那么C=t，在這個示例中，超級電容的容量在數(shù)字上與電容從1.5V充電到2.5V的時間相等。
LED日光燈電源發(fā)熱到一定程度會導致燒壞，關于這個問題，也見到過有人在行業(yè)論壇發(fā)過貼討論過。本文將從芯片發(fā)熱、功率管發(fā)熱、工作頻率降頻、電感或者變壓器的選擇、LED電流大小等方面討論LED日光燈電源發(fā)熱燒壞MOS管技術。芯片發(fā)熱本次內容主要針對內置電源調制器的高壓驅動芯片。如芯片消耗的電流為2mA，300V的電壓加在芯片上面，芯片的功耗為0.6W，當然會引起芯片的發(fā)熱。驅動芯片的電流來自于驅動功率MOS管的消耗，簡單的計算公式為I=cvf（考慮充電的電阻效益，實際I=2cvf，其中c為功率MOS管的cgs電容，v為功率管導通時的gate電壓，所以為了降低芯片的功耗，必須想法降低v和f.如果v和f不能改變，那么請想法將芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入額外的功耗。
“531”新政為狂奔的光伏行業(yè)潑了一盆冷水，市場需求的緊縮，迫使光伏企業(yè)各出奇招，尋找新的突破口。從單純的光伏發(fā)電，提升為綜合的用戶智慧能源管理，是許多光伏企業(yè)設計的產業(yè)升級之路。于是光伏逆變器企業(yè)不約而同的將儲能產品提上了位。用戶側儲能主要會應用于智慧城市、智慧鄉(xiāng)村、工業(yè)園區(qū)、、車站、景區(qū)等大型工商業(yè)、服務業(yè)高耗電單位以及缺電、電能質量差的地區(qū)，發(fā)揮削峰填谷、降低高峰負荷壓力等作用，是實現(xiàn)用戶側智慧能源管理的重要環(huán)節(jié)。
且由于中性線導線截面一般應是相線截面的50％，但在選擇時，有的往往偏小，加上接頭質量不好，使導線電阻增大。中性線燒斷的幾率更高。同理在配電屏上，造成關重負荷相燒壞、接觸器重負荷相燒壞，因而整機損壞等嚴重后果。致遠電子給用戶了一套遠程電力監(jiān)控方案，它可以自動為用戶檢測電力相關參數(shù)，如電壓、電流的有效值、相角、諧波、功率、三相不平衡等電能量，一旦有異常發(fā)生可以時間通知用戶，盡可能快的排除故障避免悲劇發(fā)生。
在信號/頻譜分析儀上，邊帶噪聲是相位噪聲和幅度噪聲的總和，通常當已知調幅噪聲遠小于相位噪聲時(小于1dB以上)，在頻譜儀上讀出的邊帶噪聲即為相位噪聲。在29K環(huán)境溫度下，噪聲功率基底是-174dBm/Hz。由于相位噪聲和調幅噪聲對熱噪聲的貢獻是等同的，所以相位噪聲對熱噪聲的貢獻是-177dBm/Hz，比熱噪聲低3dB。如果載波功率較小，-2dBm，相位噪聲就被限制到-157dBc/Hz（-177dBm/Hz-（-2dBm））。
如電子設備不滿足噪聲限制規(guī)則，則產品就不能出和使用。由于上述種種原因，在電源設備中必須要設計使用滿足要求的電網(wǎng)噪聲濾波器。EMI噪聲和濾波器的類型在電源設備輸入引線上存在二種EMI噪聲：共模噪聲和差模噪聲，如所示。把在交流輸入引線與地之間存在的EMI噪聲叫作其共模噪聲，它可看作為在交流輸入線上傳輸?shù)碾娢幌嗟?、相位相同的干擾信號，即的電壓V1和V2。而把交流輸入引線之間存在的EMI噪聲叫作差模噪聲，它可看作為在交流輸入線傳輸?shù)南辔徊?80°的干擾信號，即中的電壓V3。
回想您過去作為工程師的一年：您的角色發(fā)生了何種變化？過去五年又發(fā)生了哪些變化？隨著技術變革的步伐不斷加快，您必須調整工作的各個方面，并提率。一起拜讀下這篇來自NI 產品營銷經理JonahPaul的LabVIEWNXG優(yōu)勢盤點好文。在Aspencore（前稱UBM）2015年進行的一項測試測量研究中，包括半導體、汽車、 和航天在內的多個行業(yè)的工程師列出以下幾個方面為其測試發(fā)演變過程中 主要的變化：“適應快速變化的技術，為終端用戶測試能力和價值。